Materials Fundamentals of Gate Dielectrics
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Materials Fundamentals of Gate Dielectrics

 eBook
Sofort lieferbar | Lieferzeit: Sofort lieferbar I
ISBN-13:
9781402030789
Veröffentl:
2006
Einband:
eBook
Seiten:
476
Autor:
Alexander A. Demkov
eBook Typ:
PDF
eBook Format:
Reflowable eBook
Kopierschutz:
Digital Watermark [Social-DRM]
Sprache:
Englisch
Beschreibung:

Materials and Physical Properties of High-K Oxide Films.- Device Principles of High-K Dielectrics.- Thermodynamics of Oxide Systems Relevant to Alternative Gate Dielectrics.- Electronic Structure and Chemical Bonding in High-k Transition Metal and Lanthanide Series Rare Earth Alternative Gate Dielectrics: Applications to Direct Tunneling and Defects at Dielectric Interfaces.- Atomic Structure, Interfaces and Defects of High Dielectric Constant Gate Oxides.- Dielectric Properties of Simple and Complex Oxides from First Principles.- IVb Transition Metal Oxides and Silicates: An Ab Initio Study.- The Interface Phase and Dielectric Physics for Crystalline Oxides on Semiconductors.- Interfacial Properties of Epitaxial Oxide/Semiconductor Systems.- Functional Structures.- Mechanistic Studies of Dielectric Growth on Silicon.- Methodology for Development of High-? Stacked Gate Dielectrics on III–V Semiconductors.

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