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Autor: Gottfried Wilhelm Ehrenstein
ISBN-13: 9783446422421
Einband: Buch
Seiten: 272
Gewicht: 937 g
Format: 276x203x20 mm
Sprache: Deutsch

SEM of Plastics Failure / REM von Kunststoffschäden

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Prof. Dr. Gottfried W. Ehrenstein ist Inhaber des Lehrstuhls für Kunststofftechnik an der Friedrich-Alexander- Universität, Erlangen-Nürnberg.
Eine konkurrenzlose Zusammenstellung von REM Aufnahmen zu wichtigen Themen, wie Oberflächen, Haftung, Verbindung, Schadensfälle etc. Die Rasterelektronenmikroskopie (REM) ist eine Methode, die bei der Untersuchung von Kunststoffen oft eingesetzt wird, wenn eine lichtmikroskopische Abbildung aus verschiedenen Gründen nicht ausreichend ist.
Das ist insbesondere dann der Fall, wenn eine höhere Auflösung notwendig ist. Weitere Vorzüge der Rasterelektronenmikroskopie sind die große Tiefenschärfe und die sehr kontrastreiche Abbildbarkeit von Oberflächenstrukturen. Auch bei der Untersuchung sehr dunkler Oberflächen oder transparenter Materialien ist sie vorteilhaft.
Autor: Gottfried Wilhelm Ehrenstein, Lothar Engel, Hermann Klingele, Helmut Schaper
Prof. Dr. Gottfried W. Ehrenstein ist Inhaber des Lehrstuhls für Kunststofftechnik an der Friedrich-Alexander- Universität, Erlangen-Nürnberg.

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Rezensionen

Autor: Gottfried Wilhelm Ehrenstein
ISBN-13 :: 9783446422421
ISBN: 3446422420
Erscheinungsjahr: 01.11.2010
Verlag: Hanser Fachbuchverlag
Gewicht: 937g
Seiten: 272
Sprache: Deutsch
Sonstiges: Buch, 276x203x20 mm