Comprehensive in coverage, written and edited by leading experts in the field, this Handbook is a definitive, up-to-date reference work. The Volumes Methods I and Methods II detail the physico-chemical basis and capabilities of the various microscopy techniques used in materials science. The Volume Applications illustrates the results obtained by all available methods for the main classes of materials, showing which technique can be successfully applied to a given material in order to obtain the desired information. With the Handbook of Microscopy, scientists and engineers involved in materials characterization will be in a position to answer two key questions: "e;How does a given technique work?"e;, and "e;Which techique is suitable for characterizing a given material?"e;

Dieses umfassende Handbuch sollte allen Wissenschaftlern und Technologen als Standardwerk der Mikroskopie in den Materialwissensschaften zugänglich sein. Die ersten zwei Bände, Methods I und II, geben einen ausführlichen Einblick in die physiko-chemischen und apparativen Grundlagen der verschiedenen Techniken und verbinden anschaulich den theoretischen Hintergrund mit der Praxis. Der Band Applications ist nach Material-Klassen strukturiert und illustriert anhand von typischen Beispielen, welche Methode oder welche Kombination von Techniken am besten geeignet ist, um ein beliebiges Material zu charakterisieren.Die drei Bände sind komplementär, die Bände Methods I und II richten sich insbesondere an denjenigen, der das Instrument bedient - Ingenieure, Techniker und Physiker, während der Band Applications sich in erster Linie an den Materialwissenschaftler richtet, der sich entscheiden muß, welche Methode für seine Zwecke am aussichtsreichsten ist.

METHODS I:LIGHT MICROSCOPYReflection MicroscopyTransmission MicroscopyRaman MicroscopyThree-dimensional Light MicroscopyNear Field Light MicroscopyInfrared MicroscopyX-RAY MICROSCOPYSoft X-ray ImagingX-ray MicroradiographyX-ray MicrotomographyX-ray Holographic ImagingX-ray TopographyACOUSTIC MICROSCOPYScanning Acoustic MicroscopyPhotoacoustic MicroscopyElectron Acoustic MicroscopyScanning Laser Acoustic MicroscopyELECTRON MICROSCOPYStationary Beam MethodsMETHODS II:ELECTRON MICROSCOPYScanning Beam MethodsMagnetic Methods: NMR-MicroscopyScanning Electron Microscopy with Polarization Analysis (SEMPA)EMISSION METHODSPhotoemission Electron MicroscopyField Emission Microscopy (FEM)Field Ion MicroscopySCANNING POINT PROBE TECHNIQUESScanning Tunnelling Microscopy STMAtomic Force Microscopy AFMMagnetic Force Microscopy MFMBallistic Electron Emission Microscopy (BEEM)Methods Under DevelopmentIMAGE RECORDINGHANDLING AND PROCESSINGElectronic Image RecordingImage ProcessingSPECIAL TOPICSCoincidence MicroscopyLow Energy HolographyAPPLICATIONS:CLASSES OF MATERIALSMetals and AlloysRocks and MineralsSemiconductors and Semiconducting DevicesOpto-electronic MaterialsFerroic MaterialsStructural CeramicsGemmological ApplicationsSuperconductors: Intermetallics and CeramicsNonperiodic StructuresDental and BiomaterialsApplication of TEM and SAEDDifferent Forms of CarbonComposite Structural MaterialsPolymersNuclear MaterialsMagnetic MaterialsSPECIAL TOPICSPhase TransformationsSpecimen Preparation TechniquesEnvironmental ProblemsThin Film GrowthQuantitative Hyleography